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緊湊型、高性能、TE 致冷 CCD 光譜儀
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緊湊型、高性能、TE 致冷 CCD 光譜儀
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技術參數
產品視頻
產品特性：
- 紫外-近紅外波段
- >0.2nm 光譜分辨率
- TE制冷/控溫
- 16位數字轉換
- 500 kHz 讀出速度
- 即插即用USB 2.0數據傳輸
- 提供OEM版本
應用：
- 紫外/可見/近紅外波段：光譜分析/光譜輻
- 射測量/分光光度測定
- 長積分檢測
- 吸光度測量
- 反射率測量
- OEM光學儀器組件
產品附件：
- 光源
- 光纖
- 光纖探頭
- 比色皿支架
- 直通式濾光片支架
軟件：
BWSpec®光譜數據采集軟件可執(zhí)行復雜的測量和計算。它允許用戶在多種數據格式之間進行選擇，并可以設置掃描參數，如積分時間。除了強大的數據采集和數據處理功能外，還包括自動去除暗電流、光譜平滑和手動/自動基線校正等功能。并可額外提供帶演示代碼的SDK。
TE半導體致冷：
采用內置的TE制冷器對陣列探測器進行制冷是降低暗噪聲的有效手段，在增加探測器的動態(tài)范圍同時提高了其檢測限。
當CCD探測器從室溫25℃降低到14℃時，其暗電流降低約4倍，其暗電流噪聲將降低約2倍。這使得光譜儀可以進行長積分時間檢測以及弱光檢測。
當CCD探測器從室溫25℃降低到14℃時，其暗電流降低約4倍，其暗電流噪聲將降低約2倍。這使得光譜儀可以進行長積分時間檢測以及弱光檢測。
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必達泰克光電設備（上海）有限公司
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電話：021-58585896，銷售熱線：021-58589528
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