產(chǎn)品展示
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描述:
產(chǎn)品展示
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retail price
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900 - 1700nm 近紅外TE制冷 InGaAs 陣列光譜
Product number
900 - 1700nm 近紅外TE制冷 InGaAs 陣列光譜
規(guī)格:
Quantity
-
+
Stock:
0
產(chǎn)品介紹
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技術(shù)參數(shù)
產(chǎn)品視頻
產(chǎn)品特性:
-
光譜范圍 900nm-1100nm
-
分辨率最高至0.35nm
-
內(nèi)置16位模數(shù)轉(zhuǎn)換
-
制冷可達(dá)-20℃
-
兩種增益模式滿足特殊應(yīng)用需求
-
可選配256或1024像元
應(yīng)用:
- 過程監(jiān)測
- 近紅外光譜分析
- 質(zhì)量控制
- 在線分析
- 材料鑒定
產(chǎn)品附件:
- 光源
- 光纖
- 光纖探頭
- 光纖采樣支架
TE半導(dǎo)體制冷:
采用內(nèi)置的TE制冷器對陣列探測器進(jìn)行制冷是降低暗噪聲的有效手段,在增加探測器的動態(tài)范圍同時提高了其檢測限。
當(dāng)InGaAs探測器從室溫25℃被降低到-10℃時,其暗電流將降低約12.25倍,其暗電流噪聲將降低約3.5倍。這使得光譜儀可以進(jìn)行長積分時間檢測以及弱光檢測。
當(dāng)InGaAs探測器從室溫25℃被降低到-10℃時,其暗電流將降低約12.25倍,其暗電流噪聲將降低約3.5倍。這使得光譜儀可以進(jìn)行長積分時間檢測以及弱光檢測。
軟件:
BWSpec®光譜數(shù)據(jù)采集軟件可執(zhí)行復(fù)雜的測量和計算。它允許用戶在多種數(shù)據(jù)格式之間進(jìn)行選擇,并可以設(shè)置掃描參數(shù),如積分時間。除了強(qiáng)大的數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理功能外,還包括自動去除暗電流、光譜平滑和手動/自動基線校正等功能。并可額外提供帶演示代碼的SDK。
可選狹縫:
狹縫 |
尺寸 |
光譜分辨率 900-1700 nm |
25μm |
25μm x 1mm |
~4.0nm |
50μm |
50μm x 1mm |
~5.0nm |
100μm |
100μm x 1mm |
~8.4nm |
客戶定制可選 |
衍射光柵:
建議響應(yīng)波段(nm) |
光柵 |
光譜分辨率 25μm狹縫 |
1500 - 1600 |
1000 / 1310 |
0.35nm |
1260 - 1355 |
1000 / 1310 |
0.4nm |
1450 - 1650 |
600 / 1200 |
0.8nm |
1200 - 1400 |
600 / 1200 |
0.7nm |
900 - 1300 |
300 / 1200 |
1.5nm |
1200 - 1600 |
300 / 1200 |
1.5nm |
900 - 1700 |
150 / 1250 |
4.0nm |
客戶定制可選 |
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